因為專業(yè)
所以領先
后摩爾時代Chiplet與3D封裝技術發(fā)展全景分析
核心價值主張:突破物理極限,通過異構集成實現(xiàn)性能指數(shù)級增長,降低先進制程依賴。
定義:
Chiplet(預制功能芯粒)通過3D堆疊(TSV硅通孔/TGV玻璃通孔)和2.5D中介層實現(xiàn)異構集成,替代單片SoC。
關鍵進展:
UCIe標準普及(2022年英特爾/臺積電等發(fā)起):實現(xiàn)跨廠商芯粒互連,2025年生態(tài)覆蓋率達80%頭部企業(yè)。
混合鍵合(Hybrid Bonding)突破:鍵合間距降至<1μm(如臺積電SoIC),互連密度提升100倍。
爭議點:
"定制化vs標準化"悖論:Ferguson指出當前90%方案仍為一次性定制,制約成本下降。
挑戰(zhàn)領域 | 關鍵問題 | 創(chuàng)新解決方案 |
熱管理 | 3D堆疊熱密度達1kW/cm2 | Ansys AI驅動熱仿真優(yōu)化 |
測試良率 | 合封后良率驟降(單Chiplet 98%→系統(tǒng)<85%) | 華邦KGD(Known Good Die)預測試方案 |
設計復雜度 | 多物理場耦合(信號/功耗/應力) | Cadence 3Dblox標準降低熵值 |
高價值領域:
AI芯片:NVIDIA H100采用3D CoWoS封裝,帶寬達3TB/s
高頻寬存儲器:HBM3e通過TSV堆疊8層Die,速率提升至8Gbps
軍事/航天:異質集成(Si+GaN)滿足極端環(huán)境可靠性
成本敏感領域停滯:消費電子因封裝成本占比超30%,尚未大規(guī)模滲透。
標準主導權爭奪:
UCIe聯(lián)盟(開放生態(tài))vs 臺積電3DFabric(封閉體系)
關鍵分歧:測試接口標準化(Mueth指出當前依賴"電子表格"溝通
產能卡位戰(zhàn):
臺積電CoWoS產能2025年翻倍,仍缺口40%(TrendForce數(shù)據(jù)),倒逼長電科技/華天科技擴產。
性能紅利:3D封裝使AI芯片PPA(性能/功耗/面積)優(yōu)化50%+,但成本增幅超35%。
關鍵拐點:2026年UCIe 2.0標準落地將降低異構集成設計成本40%(SEMI預測)。
國產替代窗口:中國封測廠(華天科技等)在TSV工藝良率追至95%,切入HBM供應鏈。
技術懸崖:未解決熱崩潰問題的3D芯片將面臨20%以上早期失效率(Ansys模型)。
投資焦點:優(yōu)先布局測試設備商(如泰瑞達)+ 異質材料企業(yè)(SiC/GaN襯底)。
chiplet芯片清洗劑選擇:
水基清洗的工藝和設備配置選擇對清洗精密器件尤其重要,一旦選定,就會作為一個長期的使用和運行方式。水基清洗劑必須滿足清洗、漂洗、干燥的全工藝流程。
污染物有多種,可歸納為離子型和非離子型兩大類。離子型污染物接觸到環(huán)境中的濕氣,通電后發(fā)生電化學遷移,形成樹枝狀結構體,造成低電阻通路,破壞了電路板功能。非離子型污染物可穿透PC B 的絕緣層,在PCB板表層下生長枝晶。除了離子型和非離子型污染物,還有粒狀污染物,例如焊料球、焊料槽內的浮點、灰塵、塵埃等,這些污染物會導致焊點質量降低、焊接時焊點拉尖、產生氣孔、短路等等多種不良現(xiàn)象。
這么多污染物,到底哪些才是最備受關注的呢?助焊劑或錫膏普遍應用于回流焊和波峰焊工藝中,它們主要由溶劑、潤濕劑、樹脂、緩蝕劑和活化劑等多種成分,焊后必然存在熱改性生成物,這些物質在所有污染物中的占據(jù)主導,從產品失效情況來而言,焊后殘余物是影響產品質量最主要的影響因素,離子型殘留物易引起電遷移使絕緣電阻下降,松香樹脂殘留物易吸附灰塵或雜質引發(fā)接觸電阻增大,嚴重者導致開路失效,因此焊后必須進行嚴格的清洗,才能保障電路板的質量。
合明科技研發(fā)的水基清洗劑配合合適的清洗工藝能為芯片封裝前提供潔凈的界面條件。
合明科技運用自身原創(chuàng)的產品技術,滿足芯片封裝工藝制程清洗的高難度技術要求,打破國外廠商在行業(yè)中的壟斷地位,為芯片封裝材料全面國產自主提供強有力的支持。
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